ANALIZZATORE PORTATILE X-RAY

ANALIZZATORE PORTATILE X-RAY

IL NOSTRO LABORATORIO È DOTATO DI DIVERSE APPARECCHIATURE IN GRADO DI SODDISFARE SVARIATE ESIGENZE DI ANALISI CHIMICA E ANALISI METALLOGRAFICA.
PER LO STRUMENTO SELEZIONATO, ILLUSTRIAMO NEL DETTAGLIO LE CARATTERISTICHE, LE FUNZIONALITA’ E LE ANALISI EFFETTUABILI, IN COLLABORAZIONE CON Tecnologie Superficiali Srl
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Che cos’è un analizzatore portatile X-RAY e a cosa serve?

Il nostro laboratorio è dotato di uno spettrometro portatile a raggi-x Niton™ Thermo Scientific XL2-PLUS. Attraverso un’analisi XRF siamo in grado di valutare in maniera rapida e precisa sia la composizione dei materiali che lo spessore dei rivestimenti grazie al basso limite di rilevabilità dello strumento.
La tecnologia è conforme ai metodi misurazione ISO 9001, ISO 3497, DIN 50 987, DIN EN ISO 2064 e GLC (quality managements system).
È una tecnica non distruttiva che non richiede particolari azioni preliminari per avviare l’indagine.
Grazie ad un’ampia libreria si possono verificare i metalli e le rispettive leghe.
Lo strumento è dotato di un case in cui può essere fissato. L’ottica e la sorgente sono posizionate nella parte inferiore, questo ci permette di posizionare facilmente i campioni da analizzare.
Allo stesso tempo è possibile analizzare componenti di elevate dimensioni essendo uno strumento portatile.

Possibilità̀ di analisi in loco su richiesta.
Analisi anche di elementi leggeri.

 

Cosa possiamo analizzare noi della Metalcoating:

    • Valutazione di metalli e leghe
    • Identificazione degli elementi leggeri della tavola periodica
    • Valutazione dello spessore di depositi metallici di NiP e di altri rivestimenti su richiesta
    • Rilevazione la presenza di eventuali elementi contaminanti
    • Analisi qualitativa e quantitativa elementare all’interno di solidi

Quali caratteristiche deve avere il campione da analizzare

Essendo uno strumento da campo, possiamo effettuare misure su particolari di qualsiasi dimensione e geometria.

Quali elementi è possibile identificare

Il ns strumento copre un’ampia gamma di elementi generalmente fra numero atomico 6 (carbonio) fino a quello dell’uranio (Z=92), ad eccezioni dei gas nobili, ed è in grado di misurare concentrazioni comprese tra circa lo 0,1 e il 100 per cento.

Principio di funzionamento

La Fluorescenza a Raggi X (XRF) è una tecnica analitica consolidata, veloce ed affidabile in grado di determinare, con elevatissimo grado di accuratezza, la composizione elementare di un campione. Il campione viene introdotto all’interno della camera di misura ed eccitato con raggi X primari.
Il principio funzionale consiste inizialmente nell’ orientare una radiazione X primaria contro il campione di materiale. Tale radiazione primaria è generata da un tubo per raggi X ed è concentrata da un collimatore in modo da poter selezionare con precisione le dimensioni del relativo punto di misura in funzione della misura da eseguire. L’eccitazione riguarda gli elettroni più̀ vicini al nucleo che vengono, se colpiti da radiazione con adeguata energia, espulsi dall’atomo. Interagendo con gli orbitali interni degli atomi, l’analisi non risente dello stato di ossidazione e dei legami chimici dell’elemento. Inoltre, la trasparenza del diaframma di apertura permette di esaminare il punto di misura mediante una videocamera, grazie ad una soluzione tecnica (brevettata) che prevede la particolare disposizione di uno specchio con foro.  La radiazione X primaria genera a sua volta sulla superficie del campione la caratteristica radiazione XRF secondaria, facendo sì che ogni elemento emetta un’intera sequenza di impulsi energetici Viene fatta una differenziazione tra le serie K e L (in questo caso la serie M ha una scarsa rilevanza) a seconda se la radiazione primaria ionizzi il rispettivo atomo nello strato K oppure L. Un contatore GM (rivelatore) provvede poi a misurare la radiazione secondaria, dopodiché il computer valuta gli impulsi spettrali così ottenuti ed elabora i risultati della misura.
Gli XRF sfruttano il principio della dispersione di energia, dove il rivelatore registra la composizione energetica (spettro) della radiazione da fluorescenza, che è caratteristica di ogni elemento. Nell’acquisizione dello spettro, i picchi di energia sono ben individuati, rendendo possibile la determinazione degli elementi costituenti il materiale in esame. Le righe di emissione Kα, Kβ, Lα, corrispondenti ai relativi livelli energetici atomici partendo dalla Shell più interna, sono dell’ordine delle decine di keV.
Negli ultimi anni, grazie allo sviluppo di algoritmi software sempre piu’ sofisticati in grado di correggere gli effetti inter-elementari, si è diffusa ampiamente la calibrazione a parametri fondamentali. Questo metodo è ampiamente usato nella misura dello spessore dei rivestimenti e nella composizione dei materiali, in quanto affidabile, preciso e ripetibile per un ampio range di spessori, anche per riporti doppi o tripli.

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