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MICROSCOPIO A SCANSIONE ELETTRONICA (SEM)

MICROSCOPIO A SCANSIONE ELETTRONICA (SEM)

IL NOSTRO LABORATORIO È DOTATO DI DIVERSE APPARECCHIATURE IN GRADO DI SODDISFARE SVARIATE ESIGENZE DI ANALISI CHIMICA E ANALISI METALLOGRAFICA.
PER LO STRUMENTO SELEZIONATO, ILLUSTRIAMO NEL DETTAGLIO LE CARATTERISTICHE, LE FUNZIONALITA’ E LE ANALISI EFFETTUABILI, IN COLLABORAZIONE CON Tecnologie Superficiali Srl

SI ESEGUONO ANALISI GRATUITE CON MICROSCOPIA ELETTRONICA SEM SU PARTICOLARI RIVESTITI CON NICHELATURA CHIMICA NSF.

SI ESEGUONO ANALISI SEMI QUANTITATIVE, GRATUITE, CON MICROSCOPIA ELETTRONICA (S.E.M.), SU RIVESTIMENTI DI NICHELATURA CHIMICA, PER COMPATIBILITA’ NORMATIVA ROHS. (Offerta valida per 1 campione per azienda)

Contattaci per un preventivo

Che cos’è un microscopio elettronico a scansione SEM e a cosa serve?

Il SEM, ovvero il microscopio elettronico a scansione, consiste in uno strumento attraverso il quale è possibile condurre un’indagine di tipo non distruttivo grazie all’interazione tra un fascio di elettroni e il campione, oggetto d’esame.

Ci permette di ottenere informazioni di tipo morfologico e strutturale, e grazie alla presenza di uno spettrometro a raggi X, anche importanti informazioni relative alla natura chimica del campione analizzato.

Nel microscopio elettronico a scansione (SEM) una “sonda” molto sottile di elettroni con energia fino a 15 keV viene focalizzata sulla superficie del campione all’interno del microscopio e viene indotta a esercitare una scansione in forma di una successione di linee parallele. Alcuni fenomeni si verificano sulla superficie sottoposta all’impatto degli elettroni.

La tecnologia è conforme ai metodi misurazione ISO 9220 

Il nostro laboratorio è dotato di microscopio elettronico a scansione (SEM) PhenomPro X

 

Che cos’è un sistema di microanalisi EDS e a cosa serve?

L’analisi chimica (microanalisi) nel microscopio elettronico (SEM) a scansione viene realizzata misurando l’energia e la distribuzione delle intensità dei raggi X generati dal fascio elettronico sul campione utilizzando un rivelatore a dispersione di energia EDS (spettrometria per dispersione di energia). L’analisi che viene prodotta può essere sia dell’area che in quel momento viene ingrandita, oppure, fermando la scansione del fascio elettronico, di un punto di interesse sulla superficie del campione (microanalisi). Dato che la porzione di spazio eccitata dal fascio elettronico, che produce lo spettro X, è un intorno del punto di pochi micron, il SEM+EDS è un potente mezzo di indagine su solidi chimicamente disomogenei a scala microscopica.

STRUM_SEM_web
DETTAGLIO SEM

Cosa possiamo osservare e analizzare noi della Metalcoating?

  • Osservazioni morfologiche di campioni di vario interesse, metallurgici, ceramici ed elettronici
  • Analisi qualitativa ed elaborazione di spettri a raggi X di campioni lucidi, semilucidi e grezzi
  • Microanalisi quantitativa di materiali naturali e sintetici lucidati o grezzi
  • Difettosità
  • Contaminazione delle superfici
  • composizioni elementari
  • nano particelle

Quali caratteristiche deve avere il campione da analizzare?

La misura massima del campione è 25 mm diametro x 30 mm di profondità, per dimensioni superiori occorrerà tagliare il campione.

Nel nostro laboratorio abbiamo a disposizione inglobartici che ci permettono di inglobare i vostri campioni in resine opportunamente scelte in base al tipo di analisi richiesta e lappatrici che ci consentono di lucidare i vostri campioni tramite l’ausilio di dischi e pasta diamantata. Possiamo quindi procedere all’analisi quantitativa X-EDS del campione

Che ingrandimenti si possono raggiungere?

L’ingrandimento prodotto dal microscopio elettronico a scansione è il rapporto tra le dimensioni tra l’immagine finale prodotta ed il campo esplorato dal fascio elettronico sul campione. Normalmente l’ingrandimento può andare da 80 a 130.000x ed il potere risolutivo può spingersi fino a 14nm (140 Ångstrom). Naturalmente tanto è più conduttiva la base ed il rivestimento, se presente, tanto sarà più facile raggiungere il limite dello strumento.

Quali elementi è possibile identificare?

Tutti gli elementi della tavola periodica dal carbonio in poi.

Caratteristiche del ns microscopio

  • Campo di ingrandimenti 80 – 130.000x
  • Risoluzione ≤ 14nm
  • Campo di elementi rilevabili: C – At
  • Sorgente di lunga durata e elevata luminosità (CeB6)
  • Campo di voltaggi variabile : da 4.8kV a 15kV
  • Caricamento del campione in meno di 30 secondi
  • Camera a colori per la navigazione sul campione: zoom  20 – 120x

Analisi qualitativa e semiquantitativa - elaborazione di spettri a raggi X di campioni naturali o grezzi - semilavorati

Si può effettuare l’analisi SEM-EDS su campioni non lavorati, grezzi o semilucidati e lucidati. Si possono determinare gli elementi (maggiori, minori e tracce) aventi numero atomico pari o superiore a 6, con differenti sensibilità in funzione della loro massa atomica e della matrice analitica.

I valori limite di detectabile per gli elementi maggiori, nei sistemi X-EDS, sono dell’ordine delle 2000 ppm (0.2%). Si possono utilizzare frammenti, piastrine, porzioni di materiale, spezzoni di chip, polveri o granulati, che verranno montati su appositi supporti.

Analisi quantitativa di campioni lucidi

Nel nostro laboratorio abbiamo a disposizione inglobartici che ci permettono di inglobare i vostri campioni in resine opportunamente scelte in base al tipo di analisi richiesta e lappatrici che ci consentono di lucidare i vostri campioni tramite l’ausilio di dischi e pasta diamantata. Possiamo quindi procedere all’analisi quantitativa X-EDS del campione. I risultati sono ottenuti per confronto con standard internazionali certificati. Gli elementi analizzabili sono, come nel caso precedente, tutti gli elementi a partire dal numero atomico 6. I piu’ comuni analizzati di routine sono: F, Na, Mg, Al, Si, P, S, Ca, K, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ba. Su particolari campioni, è possibile analizzare praticamente tutti gli elementi, con particolare riguardo alla standardizzazione per i seguenti: Sc, Ga, Ge, As, Se, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Gd, Dy, Er, Yb, Hf, Ta, W, Os, Ir, Pt, Au, Tl, Pb, Bi, Th, U.

Principio di funzionamento

La configurazione e la disposizione dei rivelatori degli elettroni emessi è tale che vengono sfruttate al meglio le peculiarità del meccanismo di emissione. In particolare gli elettroni secondari vengono utilizzati per la costruzione di immagini ingrandite fino a 130 000x  e risolte fino a 14nm grazie al fatto che a causa della bassa energia di cui sono dotati provengono dagli strati più superficiali del campione mentre gli elettroni primari servono all’identificazione della presenza di composti diversi in un campione eterogeneo essendo la intensità con cui emergono è una funzione diretta del numero atomico medio della sostanza investita dal raggio primario.

La corrente elettronica emessa è raccolta dai rivelatori e amplificata contemporaneamente alla scansione del fascio elettronico sul campione, le variazioni nella forza del segnale risultante sono usate per variare la brillantezza della traccia del raggio elettronico che fa una scansione su uno schermo fluorescente sincronica con il raggio elettronico sul campione.