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MISURATORE DI SPESSORE

MISURATORE DI SPESSORE

IL NOSTRO LABORATORIO È DOTATO DI DIVERSE APPARECCHIATURE IN GRADO DI SODDISFARE SVARIATE ESIGENZE DI ANALISI CHIMICA E ANALISI METALLOGRAFICA.
PER LO STRUMENTO SELEZIONATO, ILLUSTRIAMO NEL DETTAGLIO LE CARATTERISTICHE, LE FUNZIONALITA’ E LE ANALISI EFFETTUABILI, IN COLLABORAZIONE CON Tecnologie Superficiali Srl
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Che cos’è un misuratore di spessore e a cosa serve?

Il misuratore di spessore Oxford CMI 900, di cui è dotato il nostro laboratorio metallografico, è uno strumento progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings, rivestimenti e films.

 

Cosa possiamo analizzare noi della Metalcoating?

  • Misura di spessori di rivestimenti su campioni multi layers
  • analisi chimica
  • Analisi di riporti galvanici
  • Misura dei carati di una doratura
  • Analisi di componenti elettronici
  • Analisi dei bagni galvanici
  • valutazione di custom layers (possibilità di acquisto di calibratori in accordo con il cliente)
misuratore di spessore def
misuratore di spessore.

Caratteristiche dello strumento

  • Rivela spessori e rivestimenti costituita da elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio (>22):
  • strumento conforme alle normative ISO 3487, ASTM B568 e DIN 50987;
  • Riproducibilità di posizionamento campione e misurazioni ripetute (indipendente dall’operatore)
  • Puntamento automatizzato del laser per allineamento dei raggi X (laser è posizionato a circa 1.3 cm dal piano focale);
  • scansione lungo l’asse z verticale automatica per l’ottenimento della distanza ottimale del campione dal sistema di eccitazione e rivelazione;

Principio di funzionamento

L’Oxford CMI 900 usa la tecnica analitica ED XRF per la misura e analisi di rivestimenti. Dotato di un tubo a raggi X che vengono diretti verso il campione opportunamente posizionato; la presenza e la composizione degli elementi viene rilevata da un detector di raggi X. L’intensità della “luce X” emessa dal campione è proporzionale allo spessore e/o alla composizione chimica del campione.

Il CMI 900 utilizza il metodo di calibrazione FP (Fundamental Parameters) ottimizzato. Questo metodo analitico utilizza i principi fisici applicati agli elementi in esame e alle caratteristiche hardware del sistema di eccitazione e di rilevazione.
Il software FP installato nello strumento, calcola lo spessore del rivestimento e la composizione chimica del campione.

I vantaggi di questa metodica possono essere riassunti come segue:

  • Facilità di calibrazione:
    • La calibrazione FP copre un largo range di spessori, incluso applicazioni multi-strato;
    • Il nostro laboratorio può testare quindi una vasta varietà di campioni.
  • Standard di calibrazione non necessari;
    • Non sempre sono disponibili standard con la stessa matrice del campione da analizzare;
    • Quando si dispone di un numero di standard limitato, la calibrazione FP è un mezzo affidabile per analisi quantitative.
    • Sono richiesti gli elementi puri componenti gli strati e la base e uno o più standard Oxford a spessore noto. Un solo campione è sufficiente nella maggiore parte dei casi

Con il CMI900 è possibile creare calibrazioni semi-empiriche utilizzando standard a spessore noto inseriti nella metodica FP.
Questi possono essere in possesso al cliente oppure, in opzione, comprati da Oxford Instruments.
L’accuratezza delle misure quantitative è strettamente legata alla qualità degli standards utilizzati per la calibrazione.
Il metodo semi-empirico, costruito con almeno uno standard certificato, garantisce le migliori performance.